v. 7, n. 2

v. 7, n. 2

Sumário

Instrumentação Científica

IniDEM: um novo algoritmo de configuração inicial de partículas no Método dos Elementos Discretos 2D

Fabricio Fernández

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Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB)

Fabio Zuim, André Linhares Rossi

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